集成电路检测与测试创新发展论坛
- 时间：2025-09-11 14:00-17:00
- 地点：13号馆二楼13C
- 语言：中文
主办单位
集成电路检测与测试创新联盟
主办单位
集成电路检测与测试创新联盟
| 时间 | 演讲题目 | 演讲嘉宾 |
|---|---|---|
| 夯实检测根基、链接芯片未来 | ||
| 13:30-14:00 | 签到 | |
| 14:00-14:15 | 联盟领导致词 | 待定 |
| 14:15-14:30 | 集成电路IP及测试服务 白皮书介绍 | 孙鹏 集成电路检测与测试创新联盟 秘书长 中芯国际集成电路制造(北京)公司 总监 |
| 论坛主旨报告 | ||
| 14:30-14:55 | 半导体封装测试中的X射线技术 | 刘宝东 中国科学院高能物理研究所 正研级高级工程师 锐影检测科技（济南）有限公司 总经理 |
| 14:55-15:20 | 创新型二谐波技术解决半导体量检测难题 | 周朴希 上海微崇半导体设备有限公司 副总裁 |
| 15:20-15:45 | 国产明场纳米图形晶圆缺陷检测设备助力集成电路制造良率提升 | 阎海滨 天准科技股份有限公司 副总经理 |
| 15:45-16:05 | 深度光谱在微观加工制造的应用 | 章炜毅 上海复享光学股份有限公司 首席发展官 |
| 16:05-16:30 | 多模态光学缺陷检测技术在集成电路产业链中的应用 | 陈坚 合肥知常光电科技有限公司 首席科学家 |
| 16:30-17:00 | 交流研讨 | |